芯片可靠性考核后多久测试?

芯片可靠性考核后测试时间因项目需求而定，一般需要7到30天。考核过程包括高温老化、振动测试、电压冲击等，确保芯片在各种环境下稳定运行。测试周期长短取决于芯片复杂度和测试项目数量，简单芯片可能一周内完成，高端芯片可能需要更长时间。

实际测试中，工程师会记录芯片在考核后的性能变化，比如功耗、速度、温度等数据。测试频率从每天一次到每周一次不等，持续数周或数月。通过多次测试验证芯片长期可靠性，避免出现批量故障。不同应用场景测试时长不同，汽车芯片测试时间比消费电子芯片更长。