半导体老化测试时间多长?

半导体老化测试时间根据产品类型和测试条件而定。芯片测试可能持续数小时到数天，内存模块测试约24至72小时，功率器件测试长达7天。测试环境温度越高，时间越短，但需确保数据准确性。老化测试能提前发现潜在故障，提高产品可靠性。

不同半导体器件的老化测试时间差异较大。集成电路测试一般48小时，传感器测试约72小时，汽车电子器件测试超过100小时。测试时间越长，产品稳定性越好，但会增加生产成本。厂商需平衡测试时长与市场需求，确保产品符合行业标准。