芯片工作温度测试方法是什么?

芯片工作温度测试方法包括高温老化测试和低温运行测试。高温测试时，芯片在85摄氏度环境中连续运行数百小时，检查稳定性；低温测试则让芯片在零下40摄氏度环境下启动，验证功能正常。测试中还会模拟温度骤变，比如从高温瞬间切换到低温，观察芯片是否出现死机或性能下降。

实际测试中，工程师使用恒温箱控制环境温度，配合专用设备监测芯片功耗和发热情况。测试数据记录芯片在不同温度下的运行参数，如响应速度和错误率。通过这些数据，芯片厂商能确定产品的安全工作范围，确保用户在各种气候条件下使用稳定可靠。